GB-T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法.pdf
5 試驗(yàn)描述
5.1 總則
試驗(yàn)Ab、試驗(yàn)Ad和試驗(yàn)Ae是相似的，差異見5.2.2、5.3.2和5.4.2，從第6章開始的其他部分是這些試驗(yàn)共同的，試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化速率不應(yīng)超過1K/min（不超過5min時間的平均值）。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定試驗(yàn)樣品試驗(yàn)時的功能要求。
應(yīng)注意試驗(yàn)樣品的任何冷卻裝置要符合相關(guān)規(guī)范的要求。
5.2 試驗(yàn) Ab：非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)
5.2.1 目的
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行非散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.2.2 概述
將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時間。對于試驗(yàn)時需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品（即使它們不屬于散熱試驗(yàn)樣品），應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后通電，根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測。這種情況下，可能還需要一段時間達(dá)到溫度穩(wěn)定，然后試驗(yàn)樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時間。
試驗(yàn)樣品通常在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)。本試驗(yàn)通常采用高氣流速度循環(huán)。
5.3 試驗(yàn) Ad：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)——試驗(yàn)樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電
5.3.1 目的
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.3.2 概述
如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求。將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。
給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求，試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件（如可行時）處于運(yùn)行狀態(tài)。
當(dāng)試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時間。本試驗(yàn)通常采用低氣流速度循環(huán)。
5.4 試驗(yàn) Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)——試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程通電
5.4.1 目的
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程中通電。5.4.2 概述
如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求，將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，給試驗(yàn)樣品通電并根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測（見5.4.3）。
然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時間。
本試驗(yàn)通常采用低氣流速度循環(huán).
5.4.3 給試驗(yàn)樣品通電
然后給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件（如可行時）處于運(yùn)行狀態(tài)。
