GBT 5170.10-2017 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第10部分：高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備.pdf

GB/T 5170.10-2017環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第10部分∶高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

1  范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備（以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備”）的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。

本部分適用于對(duì)GB/T 2423.21、GB/T 2423.25和GB/T 2423.26所用設(shè)備的檢驗(yàn)。本部分也適用于類似設(shè)備的檢驗(yàn)。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 2423.21  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)M∶低氣壓

GB/T 2423.25  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Z/AM∶低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.26  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Z/BM∶高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 5170.1—2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第1部分∶總則

GB 12348—2008  工業(yè)企業(yè)廠界環(huán)境噪聲排放標(biāo)準(zhǔn)

3  術(shù)語(yǔ)和定義

GB/T 5170.1——2016界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。